鍍層測(cè)量?jī)x有哪些無(wú)法避免的測(cè)量誤差？

更新時(shí)間：2021-12-29

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　　鍍層測(cè)量?jī)x的測(cè)量方法主要有、楔切法，光截法，電解法，厚度差測(cè)量法，稱(chēng)重法，X射線熒光法，β射線反向散射法，電容法、磁性測(cè)量法及渦流測(cè)量法等等。它是用來(lái)測(cè)量材料及物體厚度的儀表。在工業(yè)生產(chǎn)中常用來(lái)連續(xù)或抽樣測(cè)量產(chǎn)品的厚度（如鋼板、鋼帶、薄膜、紙張、金屬箔片等材料）。

　　鍍層厚度測(cè)量已成為加工工業(yè)、表面工程質(zhì)量檢測(cè)的重要一環(huán)，是產(chǎn)品達(dá)到優(yōu)等質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)的重要手段。為使產(chǎn)品化，我國(guó)出口商品和涉外項(xiàng)目中，對(duì)覆層厚度有了明確的要求。

　　鍍層測(cè)量?jī)x的性能特點(diǎn)有哪些？

　　1、采用雙功能內(nèi)置式探頭，自動(dòng)識(shí)別鐵基或非鐵基體材料，并選擇相應(yīng)的測(cè)量方式進(jìn)行精確測(cè)量。

　　2、符合人體工程學(xué)設(shè)計(jì)的雙顯示屏結(jié)構(gòu)，可以在任何測(cè)量位置讀取測(cè)量數(shù)據(jù)。

　　3、采用手機(jī)菜單式功能選擇方式，操作十分簡(jiǎn)便。

　　4、可設(shè)定上下限值，測(cè)量結(jié)果超出或符合上下限數(shù)值時(shí)，儀器會(huì)發(fā)出相應(yīng)的聲音或閃爍燈提示。

　　5、穩(wěn)定性*，通常不必校正便可長(zhǎng)期使用。

　　鍍層測(cè)量?jī)x無(wú)法避免的測(cè)量誤差問(wèn)題分析如下：

　　1、對(duì)于較薄的覆蓋層，由于受儀器本身測(cè)量精度和覆蓋層表面粗糙度的影響，較難準(zhǔn)確測(cè)量覆蓋層厚度，尤其是當(dāng)覆蓋層厚度小于5μm的情況；對(duì)于較厚的覆蓋層，其測(cè)量結(jié)果相對(duì)誤差近似為一常數(shù)，誤差隨覆蓋層厚度增加而增大。

　　2、不同鐵磁性材料或同一鐵磁性材料采用不同的熱處理方式和冷加工工藝后，其磁特性均有較大差異，而材料的磁特性差異會(huì)直接影響對(duì)長(zhǎng)久磁鐵或檢測(cè)線圈的磁作用，為減小或消除磁特性差異產(chǎn)生的影響，應(yīng)采用磁特性與試樣基體相同或相近的金屬材料做為基體對(duì)儀器校準(zhǔn)。

　　3、鍍層測(cè)量?jī)x由于磁場(chǎng)在鐵磁性基體材料中的分布狀態(tài)在一定范圍內(nèi)與基體厚度密切相關(guān)，當(dāng)基體厚度達(dá)到某臨界厚度時(shí)，這種影響才能減小或忽略。若試樣基體厚度小于臨界厚度時(shí)，應(yīng)通過(guò)化學(xué)方法除去試樣的局部覆蓋層，利用試樣基體對(duì)儀器校準(zhǔn)。

上一條鍍層膜厚儀無(wú)損，可靠，高生產(chǎn)力
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